Przegląd zastosowań

Zapytaj Sprzedawcę

THICK 800A

thick800a-bigTHICK 800A to spektrometr przeznaczony do analiz grubości i składu powłok galwanicznych o specjalnej konstrukcji umożliwiającej wygodną wielopunktową analizę produktów w przemyśle galwanicznym, jubilerskim i elektronicznym. 

THICK 800A jest szeroko stosowany w badaniach zawartości złota, platyny, srebra i innych metali szlachetnych w przemysle jubilerskim i badaniach powłok. Prowadzi równiez analizy w przemyśle galwanicznym, zarówno składu jak i grubości powłok galwanicznych a także składu kąpieli galwanicznych.



Charakterystyka

Górne źródło promieniowania 
Kolimator o małym przekroju do precyzyjnej lokalizacji punktu pomiarowego
Platforma pomiarowa o regulowanej pozycji
Lokalizacja punktu pomiarowego za pomocą podwójnego lokalizatora laserowego
Możliwość podnoszenia i obniżania platformy.
Detektor Si-PIN z chłodzeniem elektrycznym
Wbudowany system minimalizowania zakłóceń.
Niezależne modele obliczeniowe i procedury regresji dla wielu zmiennych
Duża komora pomiarowa 
Specyfikacja techniczna

Model

THICK 800A

Detektor

SI-PINchłodzony elektrycznie

Źródło wzbudzenia

Lampa rentgenowska o mocy 50W

Napięcie na lampie
5-50 kV
Pomiary powłok0.005um minimum, do 20um (zależnie od materiału)
Analiza

Jednoczesny pomiar do 24 lub 5 warstw powłok

Mierzone pierwiastki

od S do U

Zakres pomiarowy

2 ppm - 99,9%

Kolimatormin. średnica: 0.1mm, punkt pomiarowy (do 0.2mm)

Pawtarzalność

0.05um (zewnętrzna powłoka Au poniżej 1um)

Zasilanie

220 V AC

Temperatura otoczenia

+15 °C to + 30 °C

Wymiary576×495×545 mm
Waga90kg

alt

Specyfikacja może ulec zmianie bez wcześniejszego uprzedzenia

EnviSense | nieniszcząca analiza powłok galwanicznych | spektrometry XRF | EDXRF | analizator xrf RoHS | Skyray | THICK 800A

 
© EnviSense - All rights reserved
Design by vonfio.de