Przegląd zastosowań

Zapytaj Sprzedawcę

EDX 3600B

TERAZ W SPECJALNEJ CENIE


edx3600b_3Spektrometr EDX3600B przeznaczony jest do pełnych analiz pierwiastkowych w zakresie od Na do U. Zastosowana w nim lampa emitująca promieniowanie o niskiej energii zapewnia efektywne wzbudzenie pierwiastków lekkich jak Si, S, Na i Mg, i znacznie skraca czas analizy. Duża komora pomiarowa z systemem próżniowym umożliwia wygodne umieszczenie w niej nawet próbek o dużych rozmiarach. 

Spektrometr EDX 3600B sprawdza się w analizach prób mineralnych, analizach stopów, analizach zgodności RoHS/WEEE i pomiarach powłok galwanicznych. 




Zastosowania
Głównie stosowany do pełnych analiz pierwiastkowych w przemyśle cementowym i mineralnym
Pomiary grubości powłok galwanicznych i analiz RoHS/WEEE
Analizy na zawartość metali szlachetnych
Przemysł elektryczny i elektroniczny (RoHS/WEEE)
Przemysł zabawkarski i ceramiczny
Przemysł metalurgiczny i recykling metali

Charakterystyka

Dzięki automatycznemu stabilizatorowi widma wyniki są dokładne i powtarzalne. Zastosowane są w analizatorze także: technika rozdzielania widm przydatna w analizach widm lekkich pierwiastków, oraz metoda regresji liniowej dla wielu parametrów niewelująca efekty wzajemnych zakłóceń pomiędzy pierwiastkami.
Urządzenie posiada detektor Si-PIN w technologii UHRD zapewniający wysoką liniowość i rozdzielczość energii, dobre właściwości widma i wysoki stosunek piku do tła.
Analizator prowadzi profesjonalne analizy pierwiastkowe cementu, stali, stopów metali nieżelaznych, minerałów, pomiary grubości powłok galwanicznych oraz analizy substancji niebezpiecznych zgodnie z RoHS/WEEE.
Wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE) zwiększa zdolność obliczeniową do 25 razy.
Zestaw kolimatorów i filtrów dla różnych próbek z automatycznym przełączaniem.
Chłodzony elektrycznie detektor Si-PIN w technologii UHRD zamiast detektora z chłodzeniem LN2
Specjalnie opracowane oprogramowanie analityczne w pełni kompatybilne z urządzeniem.


downloadPobierz ulotkę

Specyfikacja techniczna

Model

EDX 3600B, profesjonalny spektrometr EDXRF do pełnych analiz pierwiastkowych

Detektor

Si-PIN chłodzony elektrcznie, technologia UHRD, dostepny również w wersji z detektorem SDD

Źródło wzbudzenia

Lampa rentgenowska, W

Prąd lampy

50-1000 µA

Napięcie lampy

5-50 kV

Czas analizy

60-200 s

Mierzone pierwiastki

Od Na (sód) do U (uran), optymalizacja pomiarów dla pierwiastków lekkich

Zakres analizy

1 ppm - 99,99%

Dokładność pomiaru

0,05%

Analiza równoczesna

24 pierwiastki

Formy próbek

ciała stałe, proszki, ciecze

Pomiary powłok

11 warstw o grubości do 0,005 µm

Pozycjonowanie próby

Kamera CCD o wysokiej rozdzielczości 1,4 mln pix.

Kolimatory

Automatyczne przełączanie filtrów i kolimatorów dla różnych prób.

Zasilanie

110/220 VAC +/- 5V (zalecane źródło stabilizowane)

Rozdzielczość energii

150 +/- 5 eV;  z detektorem SDD do 127 eV

Temperatura robocza

+15 °C to + 30 °C

Wilgotność robocza

35% - 70%

Wymiary komory

320 mm śr. x180 mm wys.

Waga

75 kg

Konfiguracja standardowa

Próżniowa komora pomiarowa, kamera CCD o wysokiej rozdzielczości, detektor SI-PIN UHRD lub SDD, system optymalizacji ścieżki świetlnej, wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE), automatyczny przełącznik filtrów i kolimatorów, ruchoma platforma pomiarowa, oprogramowanie analityczne do pełnych analiz pierwiastkowych, dostępne również oprogramowanie FP

 

Specyfikacja może ulec zmianie bez wcześniejszego powiadomienia

EnviSense | nieniszcząca analiza minerałów | spektrometry XRF | EDXRF | analizator składu stopów xrf | Skyray | EDX3600B |

 
© EnviSense - All rights reserved
Design by vonfio.de