TERAZ W SPECJALNEJ CENIE
Spektrometr EDX3600B przeznaczony jest do pełnych analiz pierwiastkowych w zakresie od Na do U. Zastosowana w nim lampa emitująca promieniowanie o niskiej energii zapewnia efektywne wzbudzenie pierwiastków lekkich jak Si, S, Na i Mg, i znacznie skraca czas analizy. Duża komora pomiarowa z systemem próżniowym umożliwia wygodne umieszczenie w niej nawet próbek o dużych rozmiarach.
Spektrometr EDX 3600B sprawdza się w analizach prób mineralnych, analizach stopów, analizach zgodności RoHS/WEEE i pomiarach powłok galwanicznych.
Zastosowania Głównie stosowany do pełnych analiz pierwiastkowych w przemyśle cementowym i mineralnym Pomiary grubości powłok galwanicznych i analiz RoHS/WEEE Analizy na zawartość metali szlachetnych Przemysł elektryczny i elektroniczny (RoHS/WEEE) Przemysł zabawkarski i ceramiczny Przemysł metalurgiczny i recykling metali
Charakterystyka
Dzięki automatycznemu stabilizatorowi widma wyniki są dokładne i powtarzalne. Zastosowane są w analizatorze także: technika rozdzielania widm przydatna w analizach widm lekkich pierwiastków, oraz metoda regresji liniowej dla wielu parametrów niewelująca efekty wzajemnych zakłóceń pomiędzy pierwiastkami. Urządzenie posiada detektor Si-PIN w technologii UHRD zapewniający wysoką liniowość i rozdzielczość energii, dobre właściwości widma i wysoki stosunek piku do tła. Analizator prowadzi profesjonalne analizy pierwiastkowe cementu, stali, stopów metali nieżelaznych, minerałów, pomiary grubości powłok galwanicznych oraz analizy substancji niebezpiecznych zgodnie z RoHS/WEEE. Wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE) zwiększa zdolność obliczeniową do 25 razy. Zestaw kolimatorów i filtrów dla różnych próbek z automatycznym przełączaniem. Chłodzony elektrycznie detektor Si-PIN w technologii UHRD zamiast detektora z chłodzeniem LN2 Specjalnie opracowane oprogramowanie analityczne w pełni kompatybilne z urządzeniem.
Pobierz ulotkę
| Specyfikacja techniczna | Model | EDX 3600B, profesjonalny spektrometr EDXRF do pełnych analiz pierwiastkowych | Detektor | Si-PIN chłodzony elektrcznie, technologia UHRD, dostepny również w wersji z detektorem SDD | Źródło wzbudzenia | Lampa rentgenowska, W | Prąd lampy | 50-1000 µA | Napięcie lampy | 5-50 kV | Czas analizy | 60-200 s | Mierzone pierwiastki | Od Na (sód) do U (uran), optymalizacja pomiarów dla pierwiastków lekkich | Zakres analizy | 1 ppm - 99,99% | Dokładność pomiaru | 0,05% | Analiza równoczesna | 24 pierwiastki | Formy próbek | ciała stałe, proszki, ciecze | Pomiary powłok | 11 warstw o grubości do 0,005 µm | Pozycjonowanie próby | Kamera CCD o wysokiej rozdzielczości 1,4 mln pix. | Kolimatory | Automatyczne przełączanie filtrów i kolimatorów dla różnych prób. | Zasilanie | 110/220 VAC +/- 5V (zalecane źródło stabilizowane) | Rozdzielczość energii | 150 +/- 5 eV; z detektorem SDD do 127 eV | Temperatura robocza | +15 °C to + 30 °C | Wilgotność robocza | 35% - 70% | Wymiary komory | 320 mm śr. x180 mm wys. | Waga | 75 kg | Konfiguracja standardowa | Próżniowa komora pomiarowa, kamera CCD o wysokiej rozdzielczości, detektor SI-PIN UHRD lub SDD, system optymalizacji ścieżki świetlnej, wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE), automatyczny przełącznik filtrów i kolimatorów, ruchoma platforma pomiarowa, oprogramowanie analityczne do pełnych analiz pierwiastkowych, dostępne również oprogramowanie FP | | 
| Specyfikacja może ulec zmianie bez wcześniejszego powiadomienia |
|