 EDX 3000 to spektrometr zaprojektowany specjalnie do analiz stopów i produktów z metali szlachetnych. Posiada ergonomiczny wygląd, przyjazny użytkownikowi interfejs i profesjonalne oprogramowanie sprawiające, że analizy pierwiastkowe w przemyśle jubilerskim stają się proste i szybkie.
EDX 3000 znajduje zastosowanie przede wszystkim w analizach metali szlachetnych w próbach jubilerskich; również badania grubości powok, badania RoHS. Stosowany jest przez sklepy, hurtownie jubilerskie, w procesach produkcji biżuterii, rafinacji złota, produkcji i recyklingu elementów elektronicznych i elektrycznych (RoHS), a także przemyśle zabawkarskim i ceramicznym oraz metalurgii, wydobyciu i przetwórstwie surowców mineralnych.
Charakterystyka
Stabilna lampa X-ray
Chłodzony elektrycznie detektor Si-PIN zamiast detektora z chłodzeniem LN2
Opatentowany przez SkyRay wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE) zwiększa stabilność i dokładność pomiaru.
Wbudowana kamera o wysokiej rozdzielczości umożliwia dokładny wybór punktu pomiarowego.
Procesor cyfrowy błyskawicznie przetwarza dane wamacniane na obwodzie wzmacniającym
Zasilanie wysoko- i niskonapięciowe
Bezpieczna i łatwo zamykana i otwierana komora pomiarowa bez konieczności wytwarzania próżni
Potrójny system zabezpieczeń
Procedury nieliniowej regresji dla wielu zmiennych
Niezależny model korekcji efektu matrycy
Wykonanie ze stali; eleganckie i wygodne w użytku
Oprogramowanie z przyjaznym użytkownikowi intefejsem
Dokładne pomiary nawet bez wykorzystania standardów.
 Pobierz ulotkę PDF
| Specyfikacja techniczna | Model | EDX 3000, spektrometr EDXRF do analiz metali szlachetnych i powłok jubilerskich | Detektor | Si-PIN chłodzony elektrcznie | Źródło wzbudzenia | lampa X-ray | Prąd lampy | 50-1000 µA | Napięcie lampy | 5-50 kV | Czas analizy | 60-200 s | Mierzone pierwiastki | Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni, Rh, Cd, Ru itp. od S do U | Zakres analizy | 1 ppm - 99,99% | Dokładność pomiaru | 0,05% (zawartośc głównego składnika ponad 96%) | Analiza równoczesna | 24 pierwiastki | Formy próbek | ciała stałe, proszki, ciecze | Pozycjonowanie próby | Celownik laserowy, kamera CCD | Zasilanie | 110/220 VAC +/- 5V (zalecane źródło stabilizowane) | Rozdzielczość energii | 155 +/- 5 eV | Temperatura robocza | +15 °C to + 30 °C | Wilgotność robocza | 35% - 70% | Wymiary komory | 310x300x100 mm | Waga | 30 kg | Konfiguracja standardowa | Komora pomiarowa, kamera CCD, detektor Si-PIN ze wzmacniaczem, lampa x-ray 50W, wzmacniacz SNE. |
| 
| Specyfikacja może ulec zmianie bez wcześniejszego powiadomienia |
|
