Menu

Przegląd zastosowań

Wyślij wiadmość

EDX 2800 PDF Drukuj Email

 

2800logoEDX2800 to efekt wieloletniego doświadczenia firmy SkyRay w projektowaniu urządzeń do analiz RoHS. Posiada ergonomiczny wygląd, przyjazny użytkownikowi interfejs i profesjonalne oprogramowanie sprawiające, że analizy pierwiastkowe stają się proste i szybkie.

Zastosowania

Analizy metali szlachetnych w wyrobach elektrycznych i elektronicznych w procesach produkcyjnych i w recyklingu; również badania grubości powok, badania RoHS
Przemysł zabawkarski i ceramiczny
Metalurgia i wydobycie i przetwórstwo surowców mineralnych
Przemysł galwanizerski


Charakterystyka

Automatyczne przełączanie filtrów i kolimatorów dla różnych typów prób 
Chłodzony elektrycznie detektor Si-PIN zamiast detektora z chłodzeniem LN2
Wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE) zwiększa stabilność i dokładność pomiaru.
Inteligentne oprogramowanie analityczne w pełni kompatybilne z urządzeniem
Niezależne opcjonalne modele analityczne
Procedury nieliniowej regresji dla wielu zmiennych
System optymalizacji ścieżki świetlnej dla lepszej obserwacji próby
Wbudowana kamera o wysokiej rozdzielczości umożliwia dokładny wybór punktu pomiarowego.
Precyzyjna ruchoma platforma pomiarowa 
Eleganckie i wygodne w użytkowaniu wykonanie
Potrójny system zabezpieczeń
Niezależny model korekcji efektu matrycy
Jednoczesna analiza do 24 pierwiastków

downloadPobierz ulotkę PDF

Specyfikacja techniczna

Model

EDX 2800, Spektrometr EDXRF do analiz RoHS i badan składu stopów

Detektor

SI-PIN chłodzony elektrycznie

Źródło wzbudzenia

lampa rentgenowska

Napięcie lampy

5-50 kV

Prąd lampy

50-1000μA

Rozdzielczość energii

165±5eV

Mierzone pierwiastki

od S (siarka) do U (uran); jednoczesna analiza do 24 pierwiastków

Zakres analizy

1 ppm - 99,9%; limit detekcji dla Cd/Pb/Cr/Hg/Br do 1ppm

Czas analizy

60-300 s.

Zasilanie

110/220 VAC +/- 5V (zalecane źródło stabilizowane)

Wymiary komory

605mm×395mm×100mm

Temperatura robocza

+5 °C do + 30 °C

Wilgotność robocza

≤ 70%

Waga

60 kg


Specyfikacja może ulec zmianie bez wcześniejszego powiadomienia

EnviSense | nieniszcząca analiza składu stopów| spektrometry XRF | EDXRF | analizator xrf RoHS | Skyray | EDX2800 |

 
© EnviSense - All rights reserved
Design by vonfio.de