Przegląd zastosowań

Zapytaj Sprzedawcę

EDX Pocket IV Genius

Najnowsza generacja ręcznych spektrometrów EDX-Pocket IV Genius przeznaczonych do wykonywania analiz w terenie i charakteryzujących się niewielkimi rozmiarami, wagą i poręcznością. Używane mogą być jako analizatory substancji niebezpiecznych, składu stopów, gleby, metali szlachetnych czy minerałów.
Analizatory te mogą być również doskonałym narzędziem w takich dziedzinach jak określanie klasy rud, analizy metali na złomowiskach i w procesach recyklingu, badania archeologiczne itp.

Wyposażone są w najnowszy detektor SDD o zwiększonej rozdzielczości spektralnej, kamerę HD, nowe oprogramowanie analityczne łączące algorytmy krzywych wzorcowych i funkcje oprogramowania FP oraz w opcjonalny system helowy do wykonwyania analiz pierwiastków lekkich oraz poprawienia dokładności w analizach halogenków.



Zastosowania
Wydobycie i poszukiwania surowców mineralnych
Badania in-situ skał, gleby, osadów i rud
Opracowywanie map zasobów mineralnych
Analizy nieoczyszczonych rud, koncentratów rud i pozostałości procesów wypłukiwania
Określanie klas rud w handlu
Badania hydrologiczne, archeologiczne i inne analizy w terenie

Linia produktów Genius obejmuje 4 modele: analizator RoHS Genius 3000XRF, analizator stopów Genius 5000XRF, analizator minerałów Genius 7000XRF oraz analizator metali ciężkich w glebach Genius 9000XRF. Każdy z nich posiada funkcje optymalnie dostosowujące go do warunków pracy, szybkiej identyfikacji badanego materiału i analizy zakresu pierwiastków właściwego dla danej aplikacji.

Charakterystyka
Analizator prowadzi badania między innymi minerałów, skały, gleb i ich zawiesin, roztworów i proszków.
Urządzenie zapewnia dokładność pomiarów porównywalną ze stacjonarnymi analizatorami laboratoryjnymi dzięki połączeniu mini lampy rentgenowskiej o niskiej energii, dużego okna berylowego najnowszego detektor SDD o niskim zużyciu energii i wysokiej energii wzbudzenia.
Obsługa analizatora odbywa sie za pośrednictwem monitora dotykowego o wysokiej rozdzielczości (640*480) łączącego się z analizatorem za pomocą transmisji SPI. Technologia multi-channel i szybkie złącze znacznie poprawiają zdolności obliczeniowe urządzenia.
Urządzenie jest wodo- i pyłoodporne, pracuje w szerokim zakresie temperatur i wilgotności.
Profesjonalne oprogramowanie zaprojektowane specjalnie do testów pierwiastków w stopach charakteryzuje się wysoką czułością, krótkimi czasami pomiarów i prostota obsługi.
Niewątpliwą zaletą jest błyskawiczna identyfikacja typów stopów, analiza jakościowa i ilościowa wielu pierwiastków jednocześnie, różnorodne opcje testów, dowolne i nieograniczone możliwości dodawania trybów testowania i wbudowana korekcja intensywności niwelująca odchylenia spowodowane różnymi kształtami i gęstościami próbek.
Autonomia pracy na pakiecie akumulatorów to 8 godzin. Dołączony zasilacz do szerokiego zakresu zasilania oraz ładowarka samochodowa umożliwiają doładowanie urządzenia w dowolnych warunkach.

Dostępne modele

Genius 3000 XRF

Zastosowania - analizy zgodności RoHS i badania innych niebezpiecznych pierwiastków w produktach przemysłowych, analizy pieriwastkowe elementów elektronicznych, wyrywkowe testy jakości produktów różnego rodzaju, np. zabawek, materiałów piśmiennych, produktów dla dzieci i niemowląt, upominków, opakowań, ceramiki, odzieży, obuwia itp., testowanie pod kątem zawartości metali ciężkich baterii, akumulatorów, kąpieli galwanicznych, biżuterii, ornamentów, malowideł itp.  

Zalety
1. Zastosowanie detektora SDD znacznie poprawia rozdzielczość spektralną i dokładnośc odczytu zawartości pierwiastków.
2. Kamera HD umożliwia precyzyjny wybór punktu pomiarowego nawet o małych rozmiarach.
3. Nowe oprogramowanie posiada ulepszone algorytmy obliczeniowe i funkcje zwiększające precyzję analizy.
4. System płuczki helowej pozwala na poprawę dokładności pomiaru halogenków.

Genius 5000XRF
Przenośny analizator wszelkiego rodzaju stopów: stali nisko- i wysokostopowej, stali nierdzewnej, stali narzędziowej, stali chromowej/molibdenowej, stopów kobaltu i niklu, tytanu, stopów miedzi, mosiadzów, brązów, stopów cynku, wolframu itp. Dzięki identyfikacji i analizie pierwiastków cięższych jest równiez w stanie przeprowadzić identyfikację stopów metali lekkich jak Mg i Al. 
Znajduje zastosowanie w identyfikacji materiałów wsadowych w przemysle hutnicznym, i odlewniczym w kontroli jakości procesu produkcyjnego, w analizie jakości i składu metriałów stosowanych w budowie okrętów, samolotów i innych produktów wymagających  kontroli jakości. Jest również niezastąpiony  w identyfikacji i sortowaniu złomu metalowego, co umożliwia jego szybką klasyfikacje i wycenę w praktycznie każdych warunkach i lokalizacji.

Zalety
1. Błyskawiczna analiza nieniszcząca. Szybki 1-2 sekundowy test wystarcza do wstępnej identyfikacji materiału. Analiza o długości 10 sekund zapewnia wynik porównywalny z analizą laboratoryjną.
2. Profesjonalne oprogramowanie analityczne z wbudowaną szeroką listą typów stopów zgodna z wieloma standardami międzynarodowymi.
3. Wbudowane tryby analityczne do różnych zastosowań, m.in analiza ilościowa, jakościowa itp. metody kalibracyjne uwzględniają rozproszenia spowodowane kształtem i rozmiarami próby.
4. Elastyczne oprogramowanie z możliwością modyfikacji, rozbudowy i tworzenia nowych trybów analitycznych.
5. Funkcja dynamicznego dopasowywania - wyświetlany jest wynik analizy, numer próby i wynik identyfikacji stopu. Każdy parametr może być dopasowywany indywidualnie.

Genius 7000XRF
Spektrometr w wersji przeznaczonej do analiz prób mineralnych in-situ i badań prób gleby. Znajduje zastosowanie w badaniach próbek skał, żwirów , rud, gleby, zawiesin i innych prób w formie stałej, ciekłej lub proszkowej,  w analizach środowiskowych, badaniach instytutów związanych z rolnictwem i produkcją żywności, badaniach geologicznych, przemysle wydobywczym i innych przedsięwzięciach zwiazanych z zagospodarowaniem zasobów naturalnych.

Zalety
1. Szybka klasyfikacja rodzajów badanego materiału. Automatyczna analiza ilościowa i jakościowa z możliwością modyfikacji krzywych kalibracyjnych.
2. Wbudowane algorytmy korekcji odchyleń spowodowanych nieregularnymi kształtami i nietypową strukturą próbek.
3. Funkcja GPS umożliwia precyzyjną lokalizację miejsca analizy w badaniach geologicznych. Raport pomiarowy zawiera wszelkie dane włącznie z długością i szerokością geograficzną, jak i wysokością n.p.m.
4. Szerokie możliwości pomiarowe - spektrometr z powodzeniem może być stosowany na wielu etapach przetwarzania rud i surowców mineralnych.
5. Wykonywanie szybkich pomarów na dużych obszarach - przydatne w określaniu zasięgu występowania danych surowców lub wytyczniu map geologicznych.
6. Pomiary pierwiastków lekkich jak Mg, Al, Si, P, S
7. Kamera HD umożliwia precyzyjną loklaizację puktu pomiarowego, szczególnie w przypadku prób o niejednorodnej strukturze.
8. System automomatycznego przełączania filtrów i kolimatorów podzielony na 12 grup w celu optymalnego dostosowania konfiguracji sprzętu do specyfiki pomiaru.

Genius 9000XRF
Spektrometr skonfigurowany specjalnie do analiz środowiskowych - szczególnie do pomiarów zanieczyszczenia gleby metalami takimi jak: m.in. rtęć, kadm, arsen, miedź, cynk, nikiel, kobalt, wanad. Ze względu na prostotę obsługi i niewielkie rozmiary jest idealnym rozwiązaniem do wykonywania szybkich pomiarów w warunkach terenowych.

Zalety
1. Wykonywanie szybkich pomarów na dużych obszarach - przydatny w wyznaczaniu map zasięgu zanieczyszczenia.
2. Pomiary w szerokim zakresie zawartości, co umożliwia skuteczną ocenę procesów oczyszczania lub remediacji gruntów.
3. System GPS ułatwia precyzyjne wyznaczanie miejsc wykonywanych pomiarów na mapie.
4. System obliczeniowy i układo wielokanałowy znacznie zwiększają stabilność odczytów, co jest szczególnie ważne  w analizach niskich zawartości metali ciężkich.
5. Wysoka rozdzielczośc widmowa zmniejsza interferencje pomiędzy arsenem, a ołowiem, oraz żelazem i niklem.


Specyfikacja techniczna

Model

EDX Pocket IV Genius, ręczny analizator EDXRF

Detektor

25 mm2 detektor SDD

Rozdzielczość detektorarozdzielczośc minimalna: 139 keV

Żródło wzbudzenia

korekcja Ag, napięcie  - 4-40 kV, moc lampy: 1-100 μA

Pierwiastki mierzoneMg do U

Czas analizy

3-30 s

Procesor i RAM

CUP: 667 MHz, RAM: 256M, max. możliwośc rozszerzenia pamięci: 32 GB, Standard: 2 GB

Zakres pomiarowyppm - 99,99%
Limit detekcji

poziom ppm

Analizowane materiałyciała stałe, próbki płynne i proszkowe
GPS, WiFi

Wbudowany system  GPS i WiFi

AkumulatorAkumulatory litowe o pojemności, 7800 mAh, zapewniaja do 8 godzin ciągłej pracy spektrometru; na wyposażeniu zasilacz AC i ładowarka samochodowa.

Zabezpieczenia

Opcje administracyjne chronione hasłem

Kolimatory i filtry

Kolimatory: 2 (4.0 mm and 2.0 mm), filtry: 6 z automatycznym przełączaniem

Kamera, monitor

Kamera CMOS HD; semi-transmission & semi-reflection monitor dotykowy LCD, rozdzielczość 640*480

Okno pomiaroweΦ 12 mm

System gazowy

opcjonalna płuczka helowa

Warunki pracy

temperatura: -20 °C to + 50 °C
wilgotność: ≤ 90%

Wymiary

234 x 306 x 82 mm (LxHxW)

Waga

Analizator: 1,6 kg Akumulator: 0,3 kg

Specyfikacja może ulec zmianie bez wcześniejszego uprzedzenia.

EnviSense | nienieszcząca analiza metali | spektrometry XRF | EDXRF | ręczny analizator xrf | Skyray | EDXPocket IV Genius |


 
© EnviSense - All rights reserved
Design by vonfio.de