Zaawansowana geometria szerokokątowa (WAG™) elementów optycznych zapewnia wysoki przepływ promieniowania rentgenowskiego i optymalne warunki wzbudzenia.
Zastosowanie wtórnych tarcz (anod) ze zmienianymi komputerowo napięciami i natężeniami prądu zapewnia spolaryzowaną energię wzbudzenia, wysoki stosunek sygnału do szumu, doskonałą czułość i selektywne wzbudzenie poszczególnych pierwiastków.
Praktyczny brak promieniowania tła gwarantuje niezwykle niskie progi detekcji.
Rozdzielczość wielokanałowego układu gromadzenia wyników zapewnia doskonały stosunek piku do tła i wysoki poziom odpowiedzi detektora
| | Więcej… |
|
 Spektrometr EDXRF (X-PMA) został zaprojektowany jako Analizator Metali Szlachetnych. Urządzenie pozwala na nieniszczącą analizę próbki. Możliwa jest zarówno identyfikacja jak i określenie stężenia poszczególnych pierwiastków w stopie np. złota, platyny, srebra i innych metali szlachetnych i bazowych obecnych w biżuterii, monetach i innych materiałach. Zaletą jest możliwość równoczesnego oznaczania wszystkich składników stopu. Wyniki testu otrzymuje się w ciągu zaledwie kilku minut. Analizie mogą być poddawane próbki o średnicach już od 2 cm.
Podstawowe zalety stosowania metody XRF to jej wysoka powtarzalność, dokładność i precyzja analiz zbliżona do metody kupelacyjnej. Najważniejsze jest jednak to, że próbka nie ulega zniszczeniu.
| | Więcej… |
|
|
|
|
